「【新製品ニュース】ZEISS、半導体ラボでTEM試料作製を自動化する新しいFIB-SEM Crossbeam 550 Samplefabを日本市場に投入」の画像
1/1
Crossbeam 550 Samplefab
本文へもどる
「【新製品ニュース】ZEISS、半導体ラボでTEM試料作製を自動化する新しいFIB-SEM Crossbeam 550 Samplefabを日本市場に投入」の画像1