テクトロニクス、S530シリーズ・パラメトリック・テスト・システムとKTE 7ソフトウェアを発表、ワイドバンド・ギャップ（WBG）半導体検査に対応

新しいKTE 7をベースとしたS530シリーズ・プラットフォームにより、測定性能の最大化とコストの最小化を実現し、急成長市場における半導体製造メーカの競争力を強化2020年10月6日(米国オレゴン州ビーバートン) -- テクトロニクス（所在地：東京都港区、代表取締役： Kent Chon）は本日、KTE 7ソフトウェアおよびその他の拡張機能を搭載した新しいKeithley S530シリーズ・パラメトリック・テスト・システムを発表しました。S530プラットフォームにより、半導体ファブは、CAPEX投資を最小限に抑え、時間当たりのウェハ効率を最大化しながら、高成長の新技術に対応したパラメトリック・テスト能力を追加することができます。このように全体的な所有コストを削減することで、半導体メーカは競争の激しい新市場でのアグレッシブな価格圧力に対応することができます。GaNやSiCなどの新しいワイドバンド・ギャップ（WBG）技術に基づく新しい半導体製品は、スイッチング速度の高速化、温度範囲の拡大、電力効率の向上などの利点があります。これらの製品のテスト・ニーズに対応するため、KTE 7ベースのS530プラットフォームは、最小限のセットアップとテスト時間でラボ・グレードの測定性能を発揮する事ができます。最大1100Vまでの高速で柔軟性の高い装置構成は、新しいアプリケーションの台頭や要求の変化に応じて進化させることができます。これにより、チップ・メーカは、最小限のテスト/セットアップ時間かつ、単一システム上で、最小限の投資により、コスト効率良く高成長のパワー・デバイスおよびWBGデバイス（車載市場を含む）に進出することができます。ケースレー／テクトロニクス、バイス・プレジデント兼ジェネラル・マネージャのクリス・ボーン（Chris Bohn）は、次のように述べています。&quot;アナログおよびミックスドシグナル半導体メーカは、5G通信、自動車、IoT、医療、グリーン・エネルギーなどの市場における新たな最終アプリケーションからの強い需要を継続的に経験しています。この重要なテスト・プラットフォームの更新は、これらの顧客が新製品をより迅速、かつコスト効率よく市場に投入するのに役立ち、同時に将来の新たな要求への迅速な対応を可能にしています。S530シリーズの革新的な機能により、幅広い製品群でテスタを最大限に活用し、既存のテスト・ソフトウェアやプローブ・カードなどの資産を簡単に移行できるだけでなく、データの完全な相関性と大幅な速度向上を実現しています。S530-HVモデルでは、任意のピンで最大1100Vのテストが可能で、パワーおよびWBGアプリケーションの競合システムと比較してスループットを50%以上向上させることができます。チップ・メーカは、IATF-16949品質管理基準に準拠した自動車製品など、さまざまな製品を1台のシステムでテストすることができます。キャリブレーション(校正)は、ダウンタイムを最小限に抑えてお客様ファブ内で行うことができるほか、テクトロニクスのサービス組織を通じて、世界規模で高品質のパーソナル・サポートを受けることができます。KTE 7ベースのプラットフォームは、半導体メーカに、従来のS600およびS400システムから最も簡単で費用対効果の高い移行パスを提供し、完全なデータ相関性を維持しながら、S600よりも最大25%高速でスループットを向上させます。大幅な機能強化と業界初の試みS530-HV用のオプションのテストヘッドを使用することで、低電圧（200V未満）から高電圧（200V以上）のウェハレベル・テストに移行する際に、装置、プローブ・カード、およびケーブル・テスト・セットアップを変更する時間が不要になります。このテストヘッドは、複数のベンダの複数のモデルに対してプローブ・カードの互換性を可能にし、下位互換性を維持しながら、プローブ・カードの交換と ISO-17025 に準拠したピンへのキャリブレーションを高速化します。これにより、移行コストを最小限に抑え、顧客の投資を保護しながら、自動車用規格IATF-16949などの新しい要件をサポートします。S530-HVは、任意のピンで最大1100Vまでのテストを可能にし、電力およびWBGアプリケーションの競合システムと比較してスループットを50%以上向上させます。お客様は、任意のテスト・リソースを任意の順序で任意のテスト・ピンに接続することができるため、信号経路の再構成や再調整を行うことなく、迅速かつ容易に生産要求をサポートすることができます。KTE のソフトウェアとの互換性により、S600 などの旧システムからの移行を大幅に簡素化して高速化し、最大25%アップの高速スループットで完全な相関性を実現します。内蔵の過渡過電圧/過電流保護機能により、プローブ・カード、針、装置の偶発的な損傷を防止します。システム校正中、新しい 5880-SRU システム・リファレンス・ユニットは、すべての DC および AC リファレンス・スタンダードを自動的に切り替えるため、手動での接続、切断、再接続の必要はありません。この完全に自動化されたプロセスにより、システムのダウンタイムが大幅に短縮され、キャリブレーション時のサポートコストも大幅に削減できることにより、COOプロファイルが低減されます。テクトロニクスについて米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト／計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。ウェブサイトはこちらから。 jp.tek.comテクトロニクスの最新情報はこちらから Twitter (@tektronix_jp)Facebook (http://www.facebook.com/tektronix.jp)YouTube（http://www.youtube.com/user/TektronixJapan）お客さまからのお問合せ先テクトロニクス お客様コールセンターTEL 0120-441-046 FAX 0120-046-011URL jp.tek.comTektronix、テクトロニクスは Tektronix, Inc.の登録商標です。本文に記載されているその他すべての商標名および製品名は、各社のサービスマーク、商標、登録商標です。