シンガポールメディアの連合早報は23日、中国半導体大手の長鑫存儲技術(CXMT)に半導体の中核技術を漏えいしたとして、韓国サムスン電子の元研究員に懲役7年の実刑判決が言い渡されたとする記事を掲載した。
韓国・連合ニュースの報道として伝えたところによると、ソウル中央地裁は22日、流出した技術が「国家核心技術」に該当し、被告が漏えいの過程で共謀した事実が認められると指摘した。
被告はサムスン電子の元部長と共にCXMTへ転職する際、サムスンのDRAM技術をCXMTに漏えいしたとして、昨年5月に起訴されていた。
漏えいした技術は、サムスン電子が1兆6000億ウォン(約1760億円)を投じて世界で初めて開発した回路線幅10ナノメートル台のDRAMの最新工程技術とされる。被告は技術提供の見返りとして、CXMTから契約金3億ウォン(約3300万円)やストックオプション(株式購入権)などを含め6年間で計29億ウォン(約3兆1900億円)を受け取っていた。(翻訳・編集/柳川)











